本文標(biāo)題："夾雜物不均勻分布和夾雜物形狀計(jì)量顯微鏡"
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夾雜物不均勻分布和夾雜物形狀計(jì)量顯微鏡
顯微斷口學(xué)就是斷裂表面的微觀檢驗(yàn)，是故障分析的最重要方法
之一。由于掃描電鏡在日常實(shí)際工作中的應(yīng)用，近年來顯微斷口學(xué)變
得日趨重要。顯微斷口學(xué)研究就是確定在特定條件下，斷口的微觀形
貌與各種負(fù)荷參數(shù)，如負(fù)荷應(yīng)力類型以及環(huán)境影響之間的關(guān)系。
對(duì)馬氏體鋼板的三個(gè)互相垂直的斷裂平面進(jìn)行了金相和電子斷口
檢驗(yàn)。夾雜物的不均勻分布和夾雜物形狀的各向異性產(chǎn)生了看來好像
不同的斷口，然而在微觀上又都是延性的。對(duì)斷口表面及斷口表面剖
面的仔細(xì)檢查表明，
在宏觀斷裂之前，由硫化物夾雜萌生的空洞有一定程度的長大。
由滲碳體成核的空洞的尺寸與原奧氏體晶粒尺寸的比較說明，只有很
少數(shù)量的滲碳體粒子成為空洞的核，而在每一個(gè)原奧氏體晶粒內(nèi)卻存
在有數(shù)千個(gè)滲碳體粒子。夾雜物分布的數(shù)學(xué)特征說明，夾雜物的有效
體積百分?jǐn)?shù)取決于斷裂平面的位向，并有助于對(duì)斷裂應(yīng)變各向異性的
理解。本研究強(qiáng)調(diào)了在分析斷裂過程方面常規(guī)金相學(xué)與立體電子斷口
學(xué)的一致性。
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